U solarnoj PV industriji, prijelaz tehnologije oblatna dolazi do pomaka sa pseudo kvadrata156,75x156,75 mm M2 do većih veličina pločica na punom kvadratu 158,75x158,75 mm, a to uključuje mono-Si oblatne p-tipa i n-tipa.
Moderne monoklatne pločice Full Square maksimalno su povećale izloženost svjetlosti istoj razini višestrukih pločica širenjem kvadratne mjere. Oblatne su uvijek potpuno četvrtaste, tako da na optimalan način odgovaraju PV modulu.
1 Svojstva materijala
Vlasništvo | Specifikacija | Način inspekcije |
Metoda rasta | CZ | |
Kristalnost | Monokristalni | Preferencijalne tehnike jetkanja（ASTM F47-88） |
Tip vodljivosti | N-tip | Napson EC-80TPN |
Dopant | Fosfor | - |
Koncentracija kisika [Oi] | ≦8E+17 at / cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Koncentracija ugljika [Cs] | ≦5E+16 at / cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Gustoća jetnih jama (gustoća dislokacije) | ≦500 cm-3 | Preferencijalne tehnike jetkanja（ASTM F47-88） |
Orijentacija površine | & lt; 100> ± 3 ° | Metoda difrakcije X-zraka (ASTM F26-1987) |
Orijentacija pseudo kvadratnih stranica | & lt; 010>,< 001=""> ± 3 ° | Metoda difrakcije X-zraka (ASTM F26-1987) |
2 Električna svojstva
Vlasništvo | Specifikacija | Način inspekcije |
Otpornost | 0,3-2,1 Ω.cm 1,0-7,0 Ω.cm | Sustav pregleda oblatni |
MCLT (životni vijek manjinskog prijevoznika) | ≧ 1000 μs (Otpornost 0,3-2,1 Ω.cm) | Sinton prolazan |
3 Geometrija
Vlasništvo | Specifikacija | Način inspekcije |
Geometrija | Pun kvadrat | |
Duljina bočne pločice | 158,75 ± 0,25 mm | sustav pregleda oblatni |
Promjer oblatne | φ223 ± 0,25 mm | sustav pregleda oblatni |
Kut između susjednih stranica | 90° ± 0.2° | sustav pregleda oblatni |
Debljina | 180 ﹢ 20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm | sustav pregleda oblatni |
TTV (ukupna varijacija debljine) | ≤ 27 µm | sustav pregleda oblatni |
4 Svojstva površine
Vlasništvo | Specifikacija | Način inspekcije |
Način rezanja | DW | -- |
Kvaliteta površine | kao izrezani i očišćeni, bez vidljive kontaminacije (ulje ili mast, otisci prstiju, mrlje od sapuna, mrlje od gnojnice, epoksidne / ljepljive mrlje nisu dopuštene) | sustav pregleda oblatni |
Oznake / koraci pile | ≤ 15µm | sustav pregleda oblatni |
Nakloniti se | ≤ 40 µm | sustav pregleda oblatni |
Osnova | ≤ 40 µm | sustav pregleda oblatni |
Čip | dubina ≤0,3 mm i duljina ≤ 0,5 mm Max 2 / kom; nema V-čipa | Golim očima ili sustav inspekcije oblatni |
Mikro pukotine / rupe | Nije dozvoljeno | sustav pregleda oblatni |
Popularni tagovi: N tip potpuno kvadratne monokristalne solarne oblatne, Kina, dobavljači, proizvođači, tvornica, izrađena u Kini
