P Tip M12 Monokristalni solarni vafl

P Tip M12 Monokristalni solarni vafl

U 2019. godini m12 (210 mm x 210 mm) p-Type pločice (silicij ingot promjera 295 mm) bile su ugušene. Očekivalo se da će 6-inčni format M2 (156,75 mm x 156,75 mm) postaviti M12 i M6.
Share to
Pošaljite upit
Čavrljaj sad
Opis
Tehnički parametri


158.75mm Full Square Monocrystalline Solar Wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


U 2019. godini m12 (210 mm x 210 mm) p-Type pločice (silicij ingot promjera 295 mm) bile su ugušene. Očekuje se da će 6-inčni format M2 (156,75 mm x 156,75 mm) postaviti M12 i M6.


1      Svojstva materijala

 

svojstvo

specifikacija

Metoda inspekcije

Metoda rasta

Cz


Kristalnost

Monokristalni

 

Tehnike povlaštenog jetkaASTM F47-88

Vrsta vodljivosti

P-tip

Napson EC-80TPN

P/N

Dopant

 

Bor, galij

 

-

Koncentracija kisika[Oi]

≦8E+17 na/cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Koncentracija ugljika[Cs]

5E+16 na/cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Gustoća jame jetka (gustoća dislokacije)

500 cm-3

Tehnike povlaštenog jetkaASTM F47-88

Orijentacija površine

<100>±3°

Metoda rendgenske difrakcije (ASTM F26-1987)

Orijentacija pseudo kvadratnih strana

<010>,<001>±3°

Metoda rendgenske difrakcije (ASTM F26-1987)

 

2      Električna svojstva

 

svojstvo

specifikacija

Metoda inspekcije

Otpornost

0,5-1,5 Ωcm

Sustav inspekcije pločica

MCLT (vijek trajanja manjinskog prijevoznika)

50 μs

Sinton BCT-400

(s razinom injiciranja: 1E15 CM-3)

 

3      geometrija

 

svojstvo

specifikacija

Metoda inspekcije

geometrija

Cijeli kvadrat


Duljina wafer strane

210±0,25 mm

sustav za kontrolu pločica

Promjer pločica

φ295±0,25 mm

sustav za kontrolu pločica

Kut između susjednih strana

90° ± 0,2°

sustav za kontrolu pločica

debljina

18020/10 μm;

17020/10 μm

sustav za kontrolu pločica

TTV (varijacija ukupne debljine)

27 μm

sustav za kontrolu pločica


 210mmx210mm M12 monocrystalline silicon solar wafer

 

 

4      Svojstva površine

 

svojstvo

specifikacija

Metoda inspekcije

Metoda rezanja

Dw

--

Kvaliteta površine

kao rez i očišćen, bez vidljive kontaminacije (ulje ili mast, otisci prstiju, mrlje od sapuna, mrlje od kaše, mrlje od epoksida/ljepila nisu dopuštene)

sustav za kontrolu pločica

Oznake pile / koraci

≤ 15μm

sustav za kontrolu pločica

luk

≤ 40 μm

sustav za kontrolu pločica

izopačiti se

≤ 40 μm

sustav za kontrolu pločica

čip

dubina ≤0,3 mm i duljine ≤ 0,5 mm Max 2/kom;   nema V-čipa

Gole oči ili sustav za kontrolu pločica

Mikro pukotine / rupe

Nije dopušteno

sustav za kontrolu pločica




Popularni tagovi: p tip m12 monokristalna solarna pločica, Kina, dobavljači, proizvođači, tvornica, proizvedena u Kini

Pošaljite upit
Pošaljite upit