Optimiziran za solarne primjene visoke učinkovitosti, N-tipa M6 monokristalni silicijski rez ima pseudo-kvadrat 166 × 166 mm dizajn s superiornim svojstvima materijala. Proizvedena pomoću CZ metode s doping fosfornim dopingom, pruža izvrsnu kvalitetu kristala<100>Orijentacija i niska gustoća oštećenja (manja od ili jednaka 500 cm⁻²). Wafer nudi vodljivost N-tipa s otpornošću 1,0-7,0 Ω · cm i većim od ili jednakim od 1000 µs nosača, što ga čini idealnim za tehnologije stanica Topcon i heterojunkcije. Njegova precizna geometrija (promjer φ223 mm, manja od ili jednaka 27 um TTV) i strogi standardi površinske kvalitete osiguravaju optimalne performanse u fotonaponskim modulima. Veličina M6 pruža savršenu ravnotežu između učinkovitosti stanica i produktivnosti proizvodnje za moderne linije solarne proizvodnje.
1. Svojstva materijala
|
Imovina |
Specifikacija |
Metoda inspekcije |
|
Metoda rasta |
Cz |
|
|
Kristalnost |
Monokristalni |
Preferencijalne tehnike jetkanja(ASTM F47-88) |
|
Vrsta vodljivosti |
N-tipa |
Napson EC-80TPN |
|
Dopant |
Fosfor |
- |
|
Koncentracija kisika [oi] |
Manje ili jednako8e +17 AT/cm3 |
FTIR (ASTM F121-83) |
|
Koncentracija ugljika [CS] |
Manje ili jednako5e +16 AT/cm3 |
FTIR (ASTM F123-91) |
|
Gustoća jama (gustoća dislokacije) |
Manje ili jednako500 cm-2 |
Preferencijalne tehnike jetkanja(ASTM F47-88) |
|
Površinska orijentacija |
<100>± 3 stupnja |
Metoda difrakcije rendgenskih zraka (ASTM F26-1987) |
|
Orijentacija pseudo kvadratnih strana |
<010>,<001>± 3 stupnja |
Metoda difrakcije rendgenskih zraka (ASTM F26-1987) |
2. Električna svojstva
|
Imovina |
Specifikacija |
Metoda inspekcije |
|
Otpornost |
1.0-7.0 Ω.cm
|
Sustav inspekcije vafla |
|
MCLT (životni vijek prijevoznika manjina) |
Veći ili jednak 1000 µs
|
Sinton BCT-400 Prolazni
(s razinom ubrizgavanja: 5E14 cm-3)
|
3. Geometrija
|
Imovina |
Specifikacija |
Metoda inspekcije |
|
Geometrija |
pseudo trg |
|
|
Oblik ruba nagiba
|
krug | |
|
Dužina bočne strane |
166 ± 0,25 mm
|
sustav inspekcije vafla |
|
Promjer vafera |
φ223 ± 0,25 mm |
sustav inspekcije vafla |
|
Kut između susjednih strana |
90 stupnjeva ± 0,2 stupnja |
sustav inspekcije vafla |
|
Debljina |
180﹢ 20/﹣10 µm
175﹢ 20/﹣10 µm
170﹢ 20/﹣10 µm
160﹢ 20/﹣10 µm
150﹢ 20/﹣10 µm
|
sustav inspekcije vafla |
|
TTV (ukupna varijacija debljine) |
Manje ili jednako 27 µm |
sustav inspekcije vafla |
4.Površinska svojstva
|
Imovina |
Specifikacija |
Metoda inspekcije |
|
Metoda rezanja |
Dw |
-- |
|
Kvaliteta površine |
Kao izrezano i očišćeno, bez vidljive onečišćenja, (ulje ili mast, otisci prstiju, mrlje sapuna, mrlje od gnoja, mrlje od epoksi/ljepila nisu dopuštene) |
sustav inspekcije vafla |
|
Pile tragove / korake |
Manje od ili jednako 15 µm |
sustav inspekcije vafla |
|
Pramac |
Manje od ili jednako 40 µm |
sustav inspekcije vafla |
|
Iskriviti |
Manje od ili jednako 40 µm |
sustav inspekcije vafla |
|
Čip |
dubina manja od ili jednaka 0,3 mm i duljina manja od ili jednaka 0,5 mm max 2/pcs; Nema V-čipa |
Gole oči ili sustav inspekcije vafle |
|
Mikro pukotine / rupe |
Nije dopušteno |
sustav inspekcije vafla |
Popularni tagovi: N-tipa M6 Monokristalna Specifikacija silikonskih vafera, Kina, dobavljači, proizvođači, tvornički, napravljeni u Kini
